科豐國際有限公司
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ST Technology Corp.
半導體與光電
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Creative Design Engineering (CDE)
自動四點探針阻值量測系統
CDE 提供自動電腦量測的四點探針阻值量測機台。快速，精確與軟體控制下針、軟體功能可最佳化下針壓力，即使薄片量測也不易破裂。自動清針(Probe Conditioning)動作，雙針頭切換。太陽能使用可支援自動Loader，300mm 機台可使用Front End，最多擴充3個量測單元，支援Semi標準介面。
Jandel Inc
手動式四點探針阻值量測系統
Jandel 是40年的四點探針針頭製造商，提供給9成以上的四點探針製造商使用。Jandel 同時也提供各式手動式四點探針機台給各種不同的應用領域使用，如研發，半導體與太陽能。
MicroSense
(Sigmatech Division)
晶圓/材料厚度彎曲度量測系統
Sigmatech 使用專有技術:背壓 APBP (Auto Positioning Back Pressure) 進行晶片或材料的厚度、彎曲度量測。近年發展的白光光學WLCS (White Light Chromatic Sensing)可以更快、更高精度的量測產出。新技術的IR，可用在TAPE量測上。機台可結合三種技術在同一機台上，應用:半導體封裝、晶片製造、 太陽能晶片製造、特殊晶片製造等。
Telecom-STV
非接觸式阻值量測/ lifetime量測
Telecom-STV 專為太陽能開發矽材用的非接觸式阻值量測(non-contact resistivity )、lifetime量測，P/N 量測。提供手持式、或自動的晶片或鑄錠 (Ingot/ Chunk) 的自動mapping 量測。最近開發同時自動mapping 阻值量測與晶片厚度量測的機台。
MAST Technology Corporation
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